[发明专利]一种阵列基板检测方法、检测装置及检测系统无效
| 申请号： | 201210418843.4 | 申请日： | 2012-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN102955097A | 公开（公告）日： | 2013-03-06 |
| 发明（设计）人： | 孙亮;郭縂傑;郭会斌;丁向前 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02;G01B7/00 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 李娟 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及阵列基板检测技术领域，特别涉及一种阵列基板检测方法、检测装置及检测系统，用于检测阵列基板上的金属配线之间是否有短路情况发生，并能确定金属配线上短路发生的坐标位置。所述阵列基板检测方法包括：获取发生短路的两条金属配线在阵列基板上的排列位置，以及发生短路的两条金属配线之间的电压值；根据所述电压值与从金属配线一端到短路点的长度的对应关系，确定在金属配线上短路发生的坐标位置。采用本发明提供的阵列基板检测方法、检测装置及检测系统，既可确定发生短路金属配线在阵列基板上的排列位置，又可确定在金属配线上短路发生的坐标位置。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 阵列 检测 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
一种阵列基板检测方法，其特征在于，包括：获取发生短路的两条金属配线在阵列基板上的排列位置，以及发生短路的两条金属配线之间的电压值；根据所述电压值与从金属配线一端到短路点的长度的对应关系，确定在金属配线上短路发生的坐标位置。
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