[发明专利]自适应量程电阻测试方法

摘要

本发明公开了一种自适应量程电阻测试方法，包括以下步骤S1、在电阻上通入电流Ia，使电阻两端形成电压差，设置测试量程为Vlim1；S2、在电流Ia下量取电阻两端的电压差Va1；S3、在电阻上通入电流Ib，使电阻两端形成电压差，以Va1为基数设置新的测试量程Vlim2，其中Va1、Ib、Va1和Ia满足Vlim2/Ib≥Va1/Ia；S4、在电流Ib下量取电阻两端的电压差Va2；S5、根据Ib和Va2计算并输出电阻两端的阻值。本发明在保证电压不超出量程的情况下，提高了电压测量的分辨率，进而提高电阻的测量精度，减小了电阻测试误差，满足了工艺需要。

主权项

一种自适应量程电阻测试方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：S1、在电阻上通入电流Ia，使电阻两端形成电压差，设置测试量程为Vlim1；S2、在电流Ia下测量电阻两端的电压差Va1；S3、在电阻上通入电流Ib，使电阻两端形成电压差，以Va1为基数设置新的测试量程Vlim2，其中Vlim2、Ib、Va1和Ia满足Vlim2/Ib≥Va1/Ia；S4、在电流Ib下测量电阻两端的电压差Va2；S5、根据Ib和Va2测算并输出电阻两端的阻值；所述Vlim2、Ib、Va1和Ia满足(Vlim2/Ib)/(Va1/Ia)＝k，k为常数且1≤k≤1.2，步骤S3中新的测试量程Vlim2为k*Va1*(Ib/Ia)。