[发明专利]一种低方阻晶体硅电池的扩散工艺无效
申请号: | 201210426933.8 | 申请日: | 2012-10-31 |
公开(公告)号: | CN102916086A | 公开(公告)日: | 2013-02-06 |
发明(设计)人: | 姬常晓;刘文峰 | 申请(专利权)人: | 湖南红太阳光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L21/223 |
代理公司: | 长沙正奇专利事务所有限责任公司 43113 | 代理人: | 马强 |
地址: | 410205 湖南省*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本发明公开了一种低方阻晶体硅电池的扩散工艺。本工艺采用常规扩散炉,通过改变扩散掺杂浓度分布,制备出比高方阻晶体硅电池效率高的低方阻电池。该种扩散工艺同样可以降低发射极的暗饱和电流及前表面复合速率,有利于提高短路电路和开路电压,而且不会增加其他电池制备工艺,是一种极具开发价值的扩散技术。 | ||
搜索关键词: | 一种 低方阻 晶体 电池 扩散 工艺 | ||
【主权项】:
一种低方阻晶体硅电池的扩散工艺,所述工艺在扩散炉中实现,包括升温扩散步骤,其特征在于,所述升温扩散步骤分如下三步进行:1)低温预扩散,在硅片表面沉积一层磷源;2)升温扩散,促使硅片表面的磷成为活性元素并扩散到硅片内;3)再次升温扩散,提高扩散掺杂深度。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
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