[发明专利]一种基于通用调试接口的SoC硬件调试器

摘要

本发明公开了一种基于通用调试接口的SoC硬件调试器，包括通用调试接口、TAP控制器、扫描链、调试控制寄存器模块、同步模块、JTAG-AHB协议转换模块、AHB-DMA模块、AHB总线控制器、调试支持模块、SoC外设模块和支持调试的处理器。本发明首次将JTAG口应用到GAISLER实验室开源的调试支持模块DSU中，并且避免了在处理器关键路径中插入扫描链，其结构和性能优于目前一般的硬件调试模块。而且该SoC硬件调试器已经过流片验证，功能正确可靠。

主权项

一种基于通用调试接口的SoC硬件调试器，其特征在于，包括通用调试接口、TAP控制器、扫描链、调试控制寄存器模块、同步模块、JTAG‑AHB协议转换模块、AHB‑DMA模块、AHB总线控制器、调试支持模块、SoC外设模块和支持调试的处理器；通用调试接口连接外部调试设备，并将调试信息通过TAP控制器控制的扫描链更新到调试控制寄存器模块；调试控制寄存器模块通过同步模块将调试信息送入JTAG‑AHB协议转换模块；调试控制寄存器模块与同步模块双向连接，其间信号的传输方向由通用调试接口的调试信息决定；JTAG‑AHB协议转换模块将同步模块发送的包含调试信息的原语转化为符合AHB协议的总线读写操作，并将其发送至AHB‑DMA同步模块；AHB‑DMA模块根据JTAG‑AHB协议转换模块发送的总线读写操作，向AHB总线控制器发起使用AHB总线的请求，待得到使用AHB总线授权且SoC处于调试模式时，通过访问调试支持模块、支持调试的处理器和SoC外设模块来对SoC系统进行调试。