[发明专利]用于存储器验证的内部数据比较有效
| 申请号： | 201210490733.9 | 申请日： | 2012-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN103136135A | 公开（公告）日： | 2013-06-05 |
| 发明（设计）人： | 赖安·T·希罗斯;约翰·蒂埃德;尤斯廷·伊格纳泰斯库 | 申请（专利权）人： | 赛普拉斯半导体公司 |
| 主分类号： | G06F13/16 | 分类号： | G06F13/16 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 周靖;郑霞 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明涉及用于存储器验证的内部数据比较。公开了一种将数据编程到非易失性存储器阵列的行中并且在所述非易失性存储器阵列内部验证所述数据被成功地编程的方法和装置。所述验证包括将来自于非易失性存储器阵列的所述行的所编程的数据与用于对所述行编程的多个高电压页锁存器中的数据相比较。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 存储器 验证 内部 数据 比较 | ||
【主权项】：
一种方法，包括：通过处理设备将数据编程到非易失性存储器阵列的行中；以及在所述非易失性存储器阵列内部验证所述数据被成功地编程。
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