[发明专利]集成电路和IC制造方法有效

专利信息
申请号: 201210509776.7 申请日: 2012-12-03
公开(公告)号: CN103137620A 公开(公告)日: 2013-06-05
发明(设计)人: 迈克尔·博尔特;纪尧姆·迪布瓦;纳维恩·阿格拉沃尔;高拉夫·比希特;贾亚拉·蒂莱高文登;廖洁;林钦;尼科·贝克曼;皮特·威塞尔斯 申请(专利权)人: NXP股份有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L21/77
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 倪斌
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 发明公开了一种集成电路管芯,包括有源衬底(20),所述有源衬底(20)包括通过相应的隔离结构(30)彼此横向分离的多个部件,所述隔离结构中的至少一些承载另外部件(40),其中承载所述另外部件的隔离结构下方的有源衬底的相应部分与所述部件电绝缘。还公开了一种制造这种IC管芯的方法。
搜索关键词: 集成电路 ic 制造 方法
【主权项】:
一种集成电路管芯,包括有源衬底(20),所述有源衬底(20)包括通过相应的隔离结构(30)彼此横向分离的多个部件,所述隔离结构中的至少一些隔离结构承载另外部件(40),其中承载所述另外部件的隔离结构下方的有源衬底的相应部分与所述部件电绝缘。
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