[发明专利]检测方法及检测装置无效
| 申请号： | 201210528167.6 | 申请日： | 2012-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN102980897A | 公开（公告）日： | 2013-03-20 |
| 发明（设计）人： | 林勇佑 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人： | 胡海国 |
| 地址： | 518132 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于阵列基板的检测方法和检测装置，其中，检测方法包括步骤：扫描阵列基板的缺陷，确定所述缺陷的尺寸；根据所述缺陷的尺寸，生成切换控制指令，将镜头切换至与所述缺陷尺寸相适应的放大倍率；采用切换后的所述镜头拍摄所述缺陷。本发明通过对扫描到的缺陷尺寸进行分析，根据缺陷尺寸切换拍摄镜头，使切换后的镜头能够拍摄到清晰、完整的缺陷图片，有利于对缺陷类型进行分析，有效提升了对缺陷的分析准确率。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种检测方法，用于检测阵列基板，其特征在于，包括步骤：扫描阵列基板的缺陷，确定所述缺陷的尺寸；根据所述缺陷的尺寸，生成切换控制指令，将镜头切换至与所述缺陷尺寸相适应的放大倍率；采用切换后的所述镜头拍摄所述缺陷。
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