[发明专利]静电放电保护电路及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201210530228.2 申请日: 2012-12-11
公开(公告)号: CN103872039A 公开(公告)日: 2014-06-18
发明(设计)人: 甘正浩;冯军宏 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L23/38;H01L21/82
代理公司: 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 代理人: 牛峥;王丽琴
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种静电放电保护电路,包括位于半导体衬底上的栅极接地N型金属氧化物半导体GGNMOS晶体管,所述GGNMOS晶体管的漏极连接芯片电路的输入/输出端,源极和栅极以及半导体衬底均接地;该电路还包括位于所述GGNMOS晶体管附近,用于吸收所述GGNMOS晶体管产生的热量的珀耳帖冷却元件。本发明还公开了一种静电放电保护电路的制作方法。采用本发明能够延长ESD保护器件的工作寿命。
搜索关键词: 静电 放电 保护 电路 及其 制作方法
【主权项】:
一种静电放电保护电路,包括位于半导体衬底上的栅极接地N型金属氧化物半导体GGNMOS晶体管,所述GGNMOS晶体管的漏极连接芯片电路的输入/输出端,源极和栅极以及半导体衬底均接地;其特征在于,该电路还包括位于所述GGNMOS晶体管附近,用于吸收所述GGNMOS晶体管产生的热量的珀耳帖冷却元件。
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