[发明专利]采用特征定位器测量的方法和装置在审
| 申请号： | 201210543968.X | 申请日： | 2012-09-17 |
| 公开（公告）号： | CN103150322A | 公开（公告）日： | 2013-06-12 |
| 发明（设计）人： | R·E·加维三世;J·P·加茨;P·W·格雷斯 | 申请（专利权）人： | 艾默生电气公司 |
| 主分类号： | G06F17/30 | 分类号： | G06F17/30 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 史新宏 |
| 地址： | 美国密*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 提供了用于测量感兴趣区域、感兴趣点和感兴趣目标的方法。所述方法典型地包括使用具有编程逻辑的测量仪器。所述编程逻辑包括一个或多个电子可查询格式经验数据库，且可以包括统计分析软件。所述测量仪器通常包括显示器和一个或多个传感器。所述传感器可以包括一个或多个可见光成像或红外成像传感器。所述编程逻辑可以被用来引导操作者进行测量。 | ||
| 搜索关键词： | 采用 特征 定位器 测量 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种利用可编程测量仪器对感兴趣区域进行特别测量的方法，包括：在该特别测量期间由操作者选择用于数据收集的多个电子数据要素需求；电子地监视由操作者使用可编程测量仪器获得的多个初级数据要素记录；电子比较所述多个初级数据要素记录与所述多个电子数据要素需求；与用于所述测量的所述多个电子数据要素需求相比，识别至少一个丢失数据要素记录；电子地查阅电子经验数据库和对于操作者获取关于如何使用所述可编程测量仪器获得所述至少一个丢失数据要素需求的至少一个指令；电子地监视由所述操作者使用所述可编程测量仪器获得的至少一个初级附加数据要素记录；电子比较所述至少一个初级附加数据要素记录与所述至少一个丢失数据要素需求；以及当所述初级数据要素记录和所述至少一个初级附加数据要素记录的组合符合所述数据要素需求时，电子建议所述操作者。
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