[发明专利]电子元件移载装置、电子元件操作装置以及电子元件测试装置有效
| 申请号： | 201210569791.0 | 申请日： | 2012-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN103185813A | 公开（公告）日： | 2013-07-03 |
| 发明（设计）人： | 中嶋治希;菊池裕之;山下毅 | 申请（专利权）人： | 株式会社爱德万测试 |
| 主分类号： | G01R1/02 | 分类号： | G01R1/02;G01R31/00;G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 | 代理人： | 高占元 |
| 地址： | 日本东京都练*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种在托盘间的DUT的移载能力优良的，用于在托盘110、120之间移换DUT100的电子元件移载装置，包含具有用于保持DUT100的多个梭子51，用于为梭子51提供导向的无端的导轨521，以及用于使所述梭子51在第一导轨521上移动的第1～第3送出装置53～55的器件搬送装置50。梭子51可在第一导轨521上绕该导轨的全周移动。 | ||
| 搜索关键词： | 电子元件 装置 操作 以及 测试 | ||
【主权项】：
一种电子元件移载装置，用于在托盘间移换被测电子元件，包含：具有用于保持所述被测电子元件的多个保持构件、用于为所述保持构件提供导向的无端的轨道、以及用于使所述保持构件在所述轨道上移动的移动构件的搬送装置；所述保持构件可在所述轨道上绕该轨道全周移动。
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