[发明专利]多通道电控双折射液晶衰减波纹测试系统

摘要

本发明公开了一种可以准确地测试出多通道电控双折射液晶衰减波纹测试系统，通过每个通道的电压-插损曲线拟合得出每个通道的固定衰减下的准确电压，具有成本低、测试方法简单，适用于大型企业对多通道电控双折射液晶衰减波纹的测试。本发明的使用能够克服传统方法测试多通道电控双折射液晶衰减波纹测试速度慢、测试精度低和无法实现自动化等缺点，具备测试速度较快、测试精度高和测试范围广等优点。

主权项

多通道电控双折射液晶衰减波纹测试系统，其特征在于：包括光源模块、光学平台、待测多通道电控双折射液晶及其夹、治具、45度偏振片、平面反射镜、环形器、光谱分析仪及测试程序，其中光源模块作为宽带光源，宽带光源经过光学平台入射到带有夹、治具的待测多通道电控双折射液晶上，45度偏振片用于从多通道电控双折射液晶产生不同偏振光的衰减改变，平面反射镜用于反射不同偏振态的宽带光，该光再经过光学平台，经由环形器接收到光谱分析仪，光谱分析仪用于测量多通道电控双折射液晶的插入衰减损耗，整个测试系统的数据采集和数据分析是通过Labview平台独立开发的测试程序进行自动控制。