[发明专利]一种RFID读写器芯片中测系统及方法有效

专利信息
申请号: 201210583486.7 申请日: 2012-12-27
公开(公告)号: CN103064011A 公开(公告)日: 2013-04-24
发明(设计)人: 胡建国;黄春开;丁颜玉;路崇;王德明 申请(专利权)人: 广州中大微电子有限公司;中山大学
主分类号: G01R31/3167 分类号: G01R31/3167
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 谭英强
地址: 510800 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种RFID读写器芯片中测系统及方法,系统包括:包括探针台、中央控制器、上位机、RFID卡和芯片阅读器。方法包括:探针台向中央处理器发出开始测试信号;中央处理器响应探针台发出的开始测试信号,并通过上位机对芯片阅读器发出测试请求;芯片阅读器与RFID卡进行通信测试,并将测试结果和测试结束信号通过上位机反馈给中央控制器;中央处理器处理测试结果并将测试结束信号发送给探针台;探针台显示被测芯片的测试结果。本发明一种RFID读写器芯片中测系统及方法,保证了测试系统的稳定运行,并且能维持各个部件之间通信的高效时序处理,不仅适用于芯片中测过程,同时也适用于芯片封装后的成品测试,具有良好的扩展能力,大大节约研发成本。
搜索关键词: 一种 rfid 读写 芯片 系统 方法
【主权项】:
一种RFID读写器芯片中测系统,其特征在于:包括:探针台,用于对被测芯片自动对针、跳针和完成探针测试;中央控制器,用于根据各指令信号控制执行指定的运算或操作;上位机,用于控制各个部件协同工作,以及让操作人员监控整个测试过程;RFID卡,用于与芯片阅读器进行通信;芯片阅读器,用于通过与RFID卡进行通信进而对被测芯片进行性能测试;所述的探针台分别与中央控制器和芯片阅读器相连接,所述上位机分别与中央控制器和芯片阅读器相连接,所述芯片阅读器还与RFID卡连接。
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