[发明专利]基于MBI5039芯片的发光二极管失效检测电路及检测方法无效
| 申请号： | 201210586469.9 | 申请日： | 2012-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN103076531A | 公开（公告）日： | 2013-05-01 |
| 发明（设计）人： | 周俊;曹金韡;陈嘉诚 | 申请（专利权）人： | 上海澳星照明电器制造有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02 |
| 代理公司： | 上海天翔知识产权代理有限公司 31224 | 代理人： | 刘粉宝 |
| 地址： | 201318 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了基于MBI5039芯片的发光二极管失效检测电路及检测方法，整个方案中恒压电源主要功能是给单片机、MBI5039芯片以及发光二极管提供供电电源，MBI5039芯片完成发光二极管工作电流的恒流控制、增益控制、发光二极管开路或短路失效侦测及信息回报；单片机给MBI5039芯片提供控制逻辑信号和接收MBI5039芯片的失效回报信号并送显示单元进行显示。本方案能够在线检测正常工作过程中发光二极管阵列中发光二极管随机处于开路或短路两种失效状态，并进行故障信息提示。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 mbi5039 芯片 发光二极管 失效 检测 电路 方法 | ||
【主权项】：
基于MBI5039芯片的发光二极管失效检测电路，其特征在于，所述检测电路包括：恒压电源，所述恒压电源为MBI5039芯片、单片机以及待检测发光二极管提供稳定恒压工作源；至少一个MBI5039芯片，所述MBI5039芯片控制连接待检测发光二极管，实现对待检测发光二极管工作电流的恒流控制、增益控制以及发光二极管开路或短路失效侦测，并将侦测到的信息传至单片机；单片机，所述单片机给MBI5039芯片发送控制逻辑信号，并接收和处理MBI5039芯片发送的侦测到的失效信息；显示单元，所述显示单元接收并显示单片机处理好的信息结果。
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