[发明专利]显微镜检验用试样的制备方法及检查试样覆盖质量的装置有效
| 申请号： | 201210599204.2 | 申请日： | 2012-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN103257061B | 公开（公告）日： | 2018-09-11 |
| 发明（设计）人： | B·奈夫;C·维尔克;K-H·维斯特霍夫 | 申请（专利权）人： | 徕卡生物系统努斯洛克有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28;G02B21/34 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 顾峻峰 |
| 地址： | 德国努*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 一种其上盖有盖玻片的显微镜检验用试样的制备方法。该方法的特征在于覆盖质量被自动地且至少部分地是光学地检查。本发明还涉及执行该方法的装置、成像装置和用于检查其上盖有盖玻片的试样的覆盖质量的装置，该装置可以快速且可靠地检查被覆盖的试样的覆盖质量。 | ||
| 搜索关键词： | 显微镜 检验 试样 制备 方法 检查 覆盖 质量 装置 | ||
【主权项】：
1.一种其上盖有玻璃盖玻片的显微镜检验用试样的制备方法，其中，所述制备方法在覆盖机中执行，所述方法包括：自动地且至少部分地在暗场照明下光学地检查玻璃盖玻片在试样上的覆盖质量；使用所述覆盖机检查所述试样的着色质量；为了检查，生成盖玻片的至少一幅图像；通过分析装置来自动地分析所述图像，从而使用所述分析装置自动地识别有缺陷的被覆盖的试样；以及基于所述分析装置的结果，重新覆盖有缺陷的被覆盖的试样，以使得向后续的实验室过程提供无缺陷覆盖的试样。
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