[实用新型]用于老化测试装置的泛用型导轨结构有效
| 申请号： | 201220084791.7 | 申请日： | 2012-03-08 |
| 公开（公告）号： | CN202583248U | 公开（公告）日： | 2012-12-05 |
| 发明（设计）人： | 刘大纲;柳彦章 | 申请（专利权）人： | 京元电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人： | 寿宁 |
| 地址： | 中国台湾新*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本实用新型是有关于一种用于老化测试装置的泛用型导轨结构，其包含主体、上固定部及下固定部。上固定部最前端形成一缺口，用以取放老化测试板与支撑板，且主体、上固定部、以及下固定部连结形成凹槽，用以支撑与取放老化测试板与支撑板，可有效减少老化测试板与支撑板磨损及产生粉尘。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 老化 测试 装置 泛用型 导轨 结构 | ||
【主权项】：
一种用于老化测试装置的泛用型导轨结构，其特征在于其包含：一主体；一上固定部，由该主体上端延伸而出，用以防止老化测试板与支撑板向上跳动；以及一下固定部，由该主体下端延伸而出，用以支撑老化测试板与支撑板；其中，该上固定部最前端形成一缺口，用以取放老化测试板与支撑板，且该主体、该上固定部、以及该下固定部连结形成一ㄈ字形的凹槽，用以在老化测试装置中支撑与取放老化测试板及支撑板。
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