[实用新型]快速测量检测装置有效

专利信息
申请号: 201220248908.0 申请日: 2012-05-30
公开(公告)号: CN202676065U 公开(公告)日: 2013-01-16
发明(设计)人: 冷志红;蔡灵玲 申请(专利权)人: 昆山明本光电有限公司
主分类号: G01B5/00 分类号: G01B5/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215325 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型涉及一种用于低通滤波器晶片尺寸测量的快速测量检测装置,包括底座和千分尺,在底座上设置有固定块,在固定块上开设有凹腔,在凹腔内设有定位块和移动块,移动块可沿凹腔内前后移动,定位块和移动块通过径向螺栓连接固定,在固定块的侧边设有横向螺栓,该横向螺栓穿过凹腔;千分尺固定在定位块和移动块之间,在千分尺的头部卡设一定位挡块,在定位挡块上开设有凹槽。本装置用于将千分尺固定在定位块和移动块之间,被检测的晶片放置在千分尺的伸出杆处,同时,被检测晶片的面贴合定位挡块的平面,保证其检测位置水平,提高了检测精度的准确度,方便人工快速的检测低通滤波器晶片的尺寸,大大提高了工作效率,达到节约工时的目的。
搜索关键词: 快速 测量 检测 装置
【主权项】:
一种用于低通滤波器晶片尺寸测量的快速测量检测装置,其特征在于:包括底座(1)和千分尺(7),在所述底座(1)上设置有固定块(3),在所述固定块(3)上开设有凹腔(31),在凹腔(31)内设有定位块(5)和移动块(6),所述移动块(6)可沿凹腔(31)内前后移动,所述定位块(5)和移动块(6)通过径向螺栓(4)连接固定,在所述固定块(3)的侧边设有横向螺栓(2),该横向螺栓(2)穿过凹腔(31);所述千分尺(7)固定在定位块(5)和移动块(6)之间,在所述千分尺(7)的头部卡设一定位挡块(8),在所述定位挡块(8)上开设有凹槽(81)。
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