[实用新型]一种简易三极管特性测量系统有效
| 申请号： | 201220320745.2 | 申请日： | 2012-07-04 |
| 公开（公告）号： | CN202735474U | 公开（公告）日： | 2013-02-13 |
| 发明（设计）人： | 张银胜;单慧琳;周杰;李家强 | 申请（专利权）人： | 南京信息工程大学 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 南京汇盛专利商标事务所(普通合伙) 32238 | 代理人： | 张立荣 |
| 地址： | 210044 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种简易三极管特性测量系统。该系统包括第一微控制器、第二微控制器、电压采样电路、数控电源、数控频率源、频率测量电路和显示输出电路，所述第一微控制器与数控电源连接，所述数控电源与待测三极管连接，待测三极管通过电压采样电路再与第一微控制器连接，第一微控制器与所述显示输出电路连接；所述第二微控制器与数控频率源连接，所述数控频率源通过频率测量电路与待测三极管连接，所述频率测量电路通过第二微控制器与显示输出电路连接。本实用新型提供的三极管特性测量系统具有性能可靠、抗干扰能力强、功耗低、性价比高等优点，可应用于实验室、工厂对晶体三极管的质量性能检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 简易 三极管 特性 测量 系统 | ||
【主权项】：
一种简易三极管特性测量系统，与待测三极管连接，其特征在于，该系统包括第一微控制器、第二微控制器、电压采样电路、数控电源、数控频率源、频率测量电路和显示输出电路，所述第一微控制器与数控电源连接，所述数控电源与待测三极管连接，待测三极管通过电压采样电路再与第一微控制器连接，第一微控制器与所述显示输出电路连接；所述第二微控制器与数控频率源连接，所述数控频率源通过频率测量电路与待测三极管连接，所述频率测量电路通过第二微控制器与显示输出电路连接。
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