[实用新型]一种TFT阵列检测框架及检测设备有效
| 申请号： | 201220349362.8 | 申请日： | 2012-07-18 |
| 公开（公告）号： | CN202736444U | 公开（公告）日： | 2013-02-13 |
| 发明（设计）人： | 裴晓光;林子锦;田震寰;赵海生;杨魏松 | 申请（专利权）人： | 北京京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00;G01R31/28;H01L21/66 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理事务所(普通合伙) 11270 | 代理人： | 程立民;张颖玲 |
| 地址： | 100176 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种TFT阵列检测框架及检测设备，用于解决现有TFT阵列检测框架兼容性差，其上的检测探针容易损坏及容易造成阵列基板损坏的技术问题。本实用新型通过用弹性导电部件代替检测探针，并且弹性导电部件的固定支架和TFT检测框架位置可调，从而实现多种型号的产品共用一个TFT检测框架。本实用新型不仅节省了购买各种型号TFT检测框架的费用，同时还能够彻底解决由于探针损坏扎碎阵列基板而造成的不必要损失。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 tft 阵列 检测 框架 设备 | ||
【主权项】：
一种TFT阵列检测框架，其特征在于，包括：主框架(9)、固定支架(10)、紧固件(11)、外部信号输入端子(12)、滑动杆(13)、弹性导电部件(14)；在固定支架(10)上开有多个并列的调节孔(15)，紧固件(11)穿过调节孔(15)将主框架(9)和固定支架(10)连接在一起；外部信号输入端子(12)的头部与弹性导电部件(14)接触，尾部与位于固定支架(10)上的滑动杆(13)连接；弹性导电部件(14)固定在固定支架(10)内侧，由导电弹性导电部件和绝缘弹性导电部件相互间隔组成。
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