[实用新型]晶圆检测装置和晶圆定位装置有效

专利信息
申请号: 201220370224.8 申请日: 2012-07-27
公开(公告)号: CN202770777U 公开(公告)日: 2013-03-06
发明(设计)人: 张学良;高海林 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 屈蘅;李时云
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型提出一种晶圆检测和晶圆定位装置包括检测台;移动平台,平放在检测台上表面;目检显微镜,位于移动平台的上方;两个传感器,分别固定在检测台相邻的两侧表面;中央控制单元,与两个传感器相连。移动平台使晶圆移动,用目检显微镜找到固定在晶圆上的三个方块,同时通过两个传感器监控移动平台的移动距离,从而获得三个方块的相对位置,中央控制单元将已有晶圆的CP图谱的格式转化为目检显微镜能直接读取的格式,并根据传感器的数据将三个方块的位置与已有晶圆的CP图谱中位置进行对准,从而达到晶圆物理图谱与CP图谱匹配,进而缩短人工手动对准的时间,提高晶圆目检和晶圆定位的效率。
搜索关键词: 检测 装置 定位
【主权项】:
一种晶圆检测装置,其特征在于,包括:一检测台;一移动平台,平放在所述检测台上表面;一目检显微镜,位于所述移动平台的上方;两个传感器,分别固定在所述检测台相邻的两侧表面;一中央控制单元,与所述两个传感器相连。
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