[实用新型]一种新型测试机构有效

专利信息
申请号: 201220600697.2 申请日: 2012-11-14
公开(公告)号: CN202903457U 公开(公告)日: 2013-04-24
发明(设计)人: 刘骏;卓维煌 申请(专利权)人: 深圳市华腾半导体设备有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G01R31/26
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518055 广东省深圳市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型涉及一种新型测试机构,包括基座、电机、凸轮机构、压片机构、测试定位机构。其特征在于:所述凸轮机构包括凸轮及凸轮从动机构,所述电机联接所述的凸轮,所述凸轮左右两侧分别有安装在基座上的滑轨,所述凸轮从动机构分别位于凸轮上下两侧并均可沿滑轨上下滑动,所述压片机构和测试定位机构分别联接凸轮从动机构上,且压片机构和测试定位机构可随凸轮从动机构运动。采用对电子元器件底部测试的方法结构,更符合目前电子元器件的制作工艺,应用性更广。
搜索关键词: 一种 新型 测试 机构
【主权项】:
一种新型测试机构,包括基座、电机、凸轮机构、压片机构、测试定位机构,其特征在于:所述凸轮机构包括凸轮及凸轮从动机构,所述电机联接所述的凸轮,所述凸轮左右两侧分别有安装在基座上的滑轨,所述凸轮从动机构分别位于凸轮上下两侧并均可沿滑轨上下滑动,所述压片机构和测试定位机构分别联接凸轮从动机构上,且压片机构和测试定位机构可随凸轮从动机构运动。
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