[实用新型]一种半导体芯片引脚检测工具

摘要

本实用新型提供一种半导体芯片引脚检测工具，其中该检测工具包括检测芯片相对两侧引脚间距的相对引脚检测槽、检测芯片引脚高度的检测台、检测同一侧相邻引脚之间间距的相邻引脚检测槽。通过使用该检测工具能够直观准确地检测引脚的各种尺寸，使用该检测工具可以在生产时快速有效的监控产品引脚尺寸，防止人为失误。

主权项

一种半导体芯片引脚检测工具，其特征在于，其包括基座以及设置于基座上的相对引脚检测槽、引脚高度检测台以及相邻引脚检测槽，其中：所述相对引脚检测槽，其包括有槽道，所述槽道间间距为芯片相对引脚的允许误差范围内的标准间距；所述引脚高度检测台，其包括相邻设置的第一凸台及第二凸台，其中所述第一凸台的高度为芯片引脚高度的允许误差范围内的标准高度的下限，所述第二凸台的高度比第一凸台高，第二凸台的高度为芯片引脚高度允许误差范围内的标准高度的上限；所述相邻引脚检测槽，其包括与芯片一侧引脚数量相同的槽道，所述相邻槽道的间距为芯片相邻引脚之间间距的允许误差范围内的标准间距。