[实用新型]批量测试发光二极管寿命的电路系统有效
| 申请号： | 201220699347.6 | 申请日： | 2012-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN203037816U | 公开（公告）日： | 2013-07-03 |
| 发明（设计）人： | 罗建国;王剑斌;王磊;吴为敬;彭俊彪 | 申请（专利权）人： | 华南理工大学 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人： | 蔡茂略 |
| 地址： | 510640 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种批量测试发光二极管寿命的电路系统，包括计算机、数字输出模块、若干个测试单元、地址解析模块和信号复用模块、数字电压表；所述计算机与数字输出模块连接；所述数字输出模块的控制信号输出端与测试单元连接，地址信号输出端分别与地址解析模块和信号复用模块连接；所述地址解析模块通过信号总线与测试单元连接；所述信号复用模块的使能端、输入端和输出端分别与地址解析模块、测试单元和数字电压表连接；所述数字电压表与计算机连接。本实用新型的电路系统结构合理、成本较低，通过若干个测试单元可对大批量的有机或者无机发光二极管的寿命进行测试工作，且具有测试速度快、精度高和以及良好可靠性的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 批量 测试 发光二极管 寿命 电路 系统 | ||
【主权项】：
批量测试发光二极管寿命的电路系统，其特征在于：包括用于提供人机交互界面和发出指令的计算机；用于接收计算机发出的指令并输出控制信号及地址信号的数字输出模块；若干个用于接收数字输出模块输出的控制信号并为待测发光二极管提供所需的电压或电流的测试单元；用于解析数字输出模块输出的地址信号并选通所需的一个测试单元电路的地址解析模块；用于接收数字输出模块输出的地址信号、选通测试单元的两个测试点并输出两个测试点电压的信号复用模块；以及用于测量两个测试点之间的电压差并转换成数字信号传递给计算机的数字电压表；所述计算机与数字输出模块连接；所述数字输出模块的控制信号输出端与测试单元连接，地址信号输出端分别与地址解析模块和信号复用模块连接；所述地址解析模块通过信号总线与测试单元连接；所述信号复用模块的使能端、输入端和输出端分别与地址解析模块、测试单元和数字电压表连接；所述数字电压表与计算机连接。
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