[发明专利]包括部分补偿探测线圈中的磁激发场的用于磁感应阻抗测量设备的线圈装置有效
| 申请号： | 201280008833.1 | 申请日： | 2012-02-09 |
| 公开（公告）号： | CN103370639A | 公开（公告）日： | 2013-10-23 |
| 发明（设计）人： | C·H·伊格尼;F·J·罗塞利费雷尔;M·哈姆施 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦有限公司 |
| 主分类号： | G01V3/10 | 分类号： | G01V3/10;G01N27/02 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 舒雄文;蹇炜 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 一种用于磁感应阻抗测量设备（100）的线圈装置（215），包括：激发线圈（208），被配置为在对象（106）中生成磁激发场；匀场线圈（364），用于生成匀场场；以及探测线圈（210-214），被配置为探测磁响应场，所述磁响应场是对所述磁激发场在所述对象（106）中感生出电流作出响应而生成的。为了提高对象的参数的确定的精度，所述探测线圈（210-214）中的净磁激发场的场强的值大致在所述探测线圈（210-214）中的所述磁响应场的场强的平均值的大小范围内，所述净磁激发场为激发场和匀场场的和。 | ||
| 搜索关键词： | 包括 部分 补偿 探测 线圈 中的 激发 用于 感应 阻抗 测量 设备 装置 | ||
【主权项】：
一种用于磁感应阻抗测量设备（100）的线圈装置（215），所述线圈装置（215）包括：‑激发线圈（208），被配置为在对象（106）中生成磁激发场；以及‑探测线圈（210‑214），被配置为探测磁响应场，所述磁响应场是对所述磁激发场在所述对象（106）中感生出电流作出响应而生成的，其中，所述探测线圈（210‑214）中的净磁激发场的场强的值包括所述探测线圈（210‑214）中的所述磁响应场的场强的平均值的大小范围。
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