[发明专利]带电粒子线装置有效

专利信息
申请号: 201280057813.3 申请日: 2012-11-12
公开(公告)号: CN103999186A 公开(公告)日: 2014-08-20
发明(设计)人: 海老根裕太;富田真一;伊东祐博;青岛利裕 申请(专利权)人: 株式会社日立高新技术;东陶机器株式会社
主分类号: H01J37/252 分类号: H01J37/252;H01J37/244;H01J37/28;H01J37/29
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 吴秋明
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 为了提供能在进行X射线元素分析的预备阶段评价、判别适于X射线分析的样本上的位置、分析者能无返工、短时间地进行确保了高可靠性的分析的带电粒子线装置,在具备X射线检测器的带电粒子线装置中,在与X射线检测器(12(25~30))的X射线检测面同轴上,与X射线检测器(12)一体或独立地配置第1反射电子检测器(15),同时或个别地由X射线检测器(12)检测X射线信号,由第1反射电子检测器(15)检测反射电子信号。
搜索关键词: 带电 粒子 线装
【主权项】:
一种带电粒子线装置,具备X射线检测器,所述带电粒子线装置的特征在于,在与所述X射线检测器的X射线检测面同轴上与所述X射线检测器一体或独立地配置第1反射电子检测器,并且具有同时或个别地由所述X射线检测器检测X射线信号、由所述第1反射电子检测器检测反射电子信号的功能。
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