[发明专利]闪烁器阵列、使用了该闪烁器阵列的X射线检测器以及X射线检查装置有效
| 申请号： | 201280058142.2 | 申请日： | 2012-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN103959096A | 公开（公告）日： | 2014-07-30 |
| 发明（设计）人： | 森本一光;齐藤昭久;足达祥卓;丰岛正规;小柳津英二 | 申请（专利权）人： | 株式会社东芝;东芝高新材料公司 |
| 主分类号： | G01T1/20 | 分类号： | G01T1/20 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 金光华 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 实施方式的闪烁器阵列(1)具备多个闪烁器模块(2)和在邻接的闪烁器模块(2)之间存在的反射层部(3)。多个闪烁器模块(2)通过反射层部(3)被一体化。反射层部(3)具有分散在透明树脂内的反射粒子。反射粒子包含从氧化钛粒子以及氧化钽粒子中选择的至少一种，并且具有2μm以下的平均粒径。在反射层部(3)的每5μm×5μm的单位面积中存在的反射粒子的个数是100个以上且250个以下的范围。 | ||
| 搜索关键词： | 闪烁 阵列 使用 射线 检测器 以及 检查 装置 | ||
【主权项】：
一种闪烁器阵列，其特征在于，具备：多个闪烁器模块；以及反射层部，存在于邻接的所述闪烁器模块之间以使多个所述闪烁器模块一体化，该反射层部具备透明树脂和分散在所述透明树脂内的反射粒子，该反射粒子包含从氧化钛粒子以及氧化钽粒子中选择的至少一种粒子、并且具有2μm以下的平均粒径，在所述反射层部的每5μm×5μm的单位面积中存在的所述反射粒子的个数是100个以上且250个以下的范围。
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