[发明专利]异常接触检测方法、电子元器件保持装置以及电子元器件搬运装置有效

专利信息
申请号: 201280070781.0 申请日: 2012-02-28
公开(公告)号: CN104136325A 公开(公告)日: 2014-11-05
发明(设计)人: 南日出夫 申请(专利权)人: 上野精机株式会社
主分类号: B65B15/04 分类号: B65B15/04
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 熊风
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的目的在于提供一种可在电子元器件的交付过程中检测电子元器件的异常接触的异常接触检测方法。本发明的异常接触检测方法中,通过升降用马达(4),经由杆件(32)使下降力(Fr)对保持部(2)进行作用,且通过音圈马达(37),对杆件(32)赋予与相对于下降力(Fr)的杆件(32)所受的反作用力(Fcr)相等的对抗推力(Fopp),对响应于电子元器件(D)一边接触于承载带(61)一边下降时产生的阻力(Fd)的、杆件(32)对于音圈马达(37)的相对性上升进行检测,通过对杆件(32)的上升进行检测,而检测下降中途电子元器件(D)对承载带(61)的接触。
搜索关键词: 异常 接触 检测 方法 电子元器件 保持 装置 以及 搬运
【主权项】:
一种异常接触检测方法,其是电子元器件保持装置对电子元器件的异常接触检测方法,其中所述电子元器件保持装置具有升降用马达,所述升降用马达使由音圈马达支撑的杆件与所述电子元器件的保持机构经由该杆件一并下降,所述异常接触检测方法的特征在于:通过所述升降用马达,经由所述杆件使下降力对所述保持机构进行作用,通过所述音圈马达,对所述杆件赋予与相对于所述下降力的所述杆件所受的反作用相等的对抗推力,对响应于所述保持机构的下降过程中产生的异常阻力的、所述杆件对于所述音圈马达的相对性的上升进行检测,且通过对所述杆件的上升进行检测,而检测在所述下降的中途对所述电子元器件的异常接触。
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