[发明专利]半导体装置在审

专利信息
申请号: 201280077538.1 申请日: 2012-12-06
公开(公告)号: CN104854701A 公开(公告)日: 2015-08-19
发明(设计)人: 陈则;川上刚史;中村胜光 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/739;H01L29/78
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 何立波;张天舒
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 终端区域具有环状区域(LNFLR)。在环状区域(LNFLR),周期性地并排设置有环状的多个P型环层(12a~12f)。环状区域(LNFLR)被分为分别包含多个P型环层(12a~12f)的多个单元。各单元的宽度是固定的。将环状区域内的P型杂质总数设为N、目标耐压设为BV[V]、各单元的宽度设为SandL[μm]、多个单元的数量设为num,并满足下述关系。N≧(M×BV)γ,M=104~105,γ=0.55~1.95,SandL×num×Ecri≧2×α×BV,Ecri=2.0~3.0×105[V/cm],α=100~101。多个单元的P型环层(12a~12f)的宽度朝向终端区域的外侧线性地变小。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
一种半导体装置,该半导体装置具有大于或等于目标耐压的耐压,在硅衬底设置形成有晶体管的激活区域、和配置在所述激活区域的周围的终端区域,该半导体装置的特征在于,所述终端区域具有环状区域,在所述环状区域,周期性地并排设置环状的多个P型环层,所述环状区域被分为分别包含所述多个P型环层的多个单元,各单元的宽度是固定的,将所述环状区域内的P型杂质总数设为N、所述目标耐压设为BV[V]、各单元的宽度设为SandL[μm]、所述多个单元的数量设为num,并满足下述关系,N≥(M×BV)γ、M=104~105、γ=0.55~1.95SandL×num×Ecri≥2×α×BVEcri=2.0~3.0×105[V/cm]、α=100~101所述多个单元的所述P型环层的宽度朝向所述终端区域的外侧线性地变小。
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