[发明专利]一种数字集成电路测试总线接口有效
| 申请号： | 201310006983.5 | 申请日： | 2013-01-08 |
| 公开（公告）号： | CN103048495A | 公开（公告）日： | 2013-04-17 |
| 发明（设计）人： | 赵明琦;谢朝辉;王德坤;刘海南;黑勇;周玉梅 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/317 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 王宝筠 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供的一种数字集成电路测试总线接口，包括由N个信号单元构成的矩阵，N为不小于30的正整数，N个信号单元中的每个信号单元均包括有呈2×2矩阵均匀分布的四个信号端。本发明中I/O信号端总数与电源信号端和地信号端和的总数的比为3:1，因此在保证每个I/O信号周围至少有一个电源信号或地信号作为参考点的同时，I/O信号端、电源信号端和地信号端均匀有规律的分布也提高了测试总线对I/O信号、电源信号和地信号的传输质量。因此，本发明可以在一个数字集成电路测试总线接口中设置比现有技术更多的且满足要求的信号端，给使用者带来了方便。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 数字集成电路 测试 总线接口 | ||
【主权项】：
一种数字集成电路测试总线接口，其特征在于，包括：N个信号单元，所述N个信号单元构成矩阵，所述N为不小于30的正整数，其中：所述N个信号单元中的每个信号单元均包括有呈2×2矩阵均匀分布的四个信号端，所述N个信号单元中包括有A个第一信号单元和B个第二信号单元，其中，所述A和所述B均为正整数，且所述A和所述B的和等于所述N，所述第一信号单元中包括三个I/O信号端和一个电源信号端，所述第二信号单元中包括三个I/O信号端和一个地信号端，其中，所述第一信号单元中电源信号端在自身所在2×2矩阵中的列位置和所述第二信号单元中地信号端在自身所在2×2矩阵中的列位置相同，所述第一信号单元中电源信号端在自身所在2×2矩阵中的行位置和所述第二信号单元中地信号端在自身所在2×2矩阵中的行位置不同，在所述N个信号单元构成的矩阵中，将所述N个信号单元中的每个信号单元均作为所述矩阵中的元素时，每一列的信号单元均为所述第一信号单元或均为所述第二信号单元，每一行的信号单元均由所述第一信号单元和所述第二信号单元交替排列组成。
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