[发明专利]试样分析装置及试样分析方法有效

专利信息
申请号: 201310015352.X 申请日: 2013-01-16
公开(公告)号: CN103217536A 公开(公告)日: 2013-07-24
发明(设计)人: 芝正树;西田智幸;若宫裕二 申请(专利权)人: 希森美康株式会社
主分类号: G01N35/00 分类号: G01N35/00;G01N33/53
代理公司: 北京市安伦律师事务所 11339 代理人: 刘良勇
地址: 日本兵库县神户市*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明公开了一种能够稀释并测定试样的试样分析装置。此试样分析装置具有:测定试样并根据该试样中的被检测成分的浓度生成测定值的测定部件、以及存储用于定义所述测定部件生成的测定值与所述成分的浓度之间的关系的校准曲线的存储部件。装置收到对标准试样进行稀释测定的指示后,按一定倍率稀释标准试样,并对稀释的标准试样进行测定。装置将从所稀释的所述标准试样得出的测定值用于所述校准曲线,以此求出所述稀释的标准试样中的成分的浓度,并输出根据求出的浓度和所述已知浓度生成的信息。本发明还公开了一种试样分析方法。
搜索关键词: 试样 分析 装置 方法
【主权项】:
一种试样分析装置,包括:测定部件,对试样进行测定,根据所述试样中的被检测成分的浓度生成测定值;存储部件,存储用于定义所述测定部件生成的测定值与所述成分的浓度的关系的校准曲线;分析部件;输出部件;指示接受部件,用于接受试样的测定指示;其中,当所述指示接受部件收到标准试样的稀释测定的指示后,所述测定部件混合含有已知浓度的成分的标准试样和稀释液,以此按一定倍率稀释所述标准试样,并对稀释的标准试样进行测定,所述分析部件将从稀释的所述标准试样获得的测定值用于所述校准曲线,以此求出所述稀释的标准试样中的成分的浓度,所述输出部件输出根据所求出的浓度和所述已知浓度生成的信息。
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