[发明专利]时序分析装置及时序分析方法有效

专利信息
申请号: 201310018025.X 申请日: 2013-01-17
公开(公告)号: CN103941105A 公开(公告)日: 2014-07-23
发明(设计)人: 沈游城;许益豪 申请(专利权)人: 德律科技股份有限公司
主分类号: G01R29/02 分类号: G01R29/02;G01R25/00
代理公司: 北京中誉威圣知识产权代理有限公司 11279 代理人: 董云海;彭晓玲
地址: 中国台湾台北*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种时序分析装置及时序分析方法,所述时序分析装置,应用于可编程序逻辑阵列系统中,包含:复数个第一及第二基本输入输出端、通道多工器、复数个高速输入输出端、取样模块以及时序分析模块。第一基本输入输出端自待测元件接收复数个待测信号。通道多工器自第一基本输入输出端接收待测信号,以选择待测信号中的至少一组输出至第二基本输入输出端。高速输入输出端具有较第一及第二基本输入输出端高的逻辑电平解析速度。取样模块通过高速输入输出端接收自第二基本输入输出端输出的该组待测信号进行取样,以产生取样结果。时序分析模块根据取样结果进行时序分析及量测。
搜索关键词: 时序 分析 装置 方法
【主权项】:
一种时序分析装置,应用于可编程序逻辑阵列系统中,包含:复数个第一基本输入输出(I/O)端,用以自待测元件接收复数个待测信号;复数个第二基本输入输出端;通道多工器,用以自这些第一基本输入输出端接收这些待测信号,以选择这些待测信号中至少一组输出至这些第二基本输入输出端;复数个高速输入输出端,具有较这些第一及第二基本输入输出端高的逻辑电平解析速度,用以连接这些第二基本输入输出端;取样模块,用以通过这些高速输入输出端接收自这些第二基本输入输出端输出的该组待测信号进行取样,以产生取样结果;以及时序分析模块,用以根据该取样结果进行时序分析及量测。
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