[发明专利]连接叠层结构的导电层的中间连接件的形成方法有效

专利信息
申请号: 201310037472.X 申请日: 2013-01-31
公开(公告)号: CN103972151A 公开(公告)日: 2014-08-06
发明(设计)人: 陈士弘 申请(专利权)人: 旺宏电子股份有限公司
主分类号: H01L21/768 分类号: H01L21/768
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明公开了一种多阶层三维叠层装置的中间连接件(interlayer connector)的形成方法,用以形成中间连接件,该中间连接件延伸至叠层结构的W个导电层;W个导电层与介电层交错叠层;使用一组M个刻蚀掩模刻蚀叠层结构,以暴露出着陆区域(landing area)于W-1个导电层;在各个刻蚀掩模m中,m为0至M-1,采用一第一刻蚀步骤、至少一个掩模削减步骤及接续于削减步骤后的一刻蚀步骤;刻蚀掩模可以覆盖Nm+1个着陆区域,且开口刻蚀区域可以覆盖Nm个着陆区域;N等于2加上削减步骤的次数;在削减的步骤中,开口刻蚀区域的尺寸迭加着陆区域的1/N;于移除的步骤的执行期间,部分的叠层结构表面可以被遮蔽,以产生没有接触开口的虚拟区域。
搜索关键词: 连接 结构 导电 中间 形成 方法
【主权项】:
一种方法,使用于一电子装置,该电子装置包括一叠层结构,该叠层结构包括多个导电层,该多个导电层与多个介电层交错排列,该方法用以形成多个中间连接件,该多个中间连接件延伸至对应的该多个导电层的一部分,该方法包括:移除于该叠层结构中部分的该多个导电层及该多个介电层,以形成多个着陆区域,该多个着陆区域没有迭加该叠层结构的该多个导电层,其中W为该多个导电层的数量,移除的步骤包括:使用一组M个刻蚀掩模刻蚀该多个介电层/导电层的该叠层结构,以暴露该多个着陆区域于W‑1个导电层,该多个刻蚀掩模具有多个掩模区域及间隔的多个开口刻蚀区域,M大于或等于2,NM少于或等于W,N为大于或等于3的整数;在该组刻蚀掩模中的各该刻蚀掩模m,其中m从0到M‑1:(a)形成该刻蚀掩模m位于一接触区域之上,该刻蚀掩模具有该多个开口刻蚀区域,该多个开口刻蚀区域位于部份该多个着陆区域之上;(b)于该刻蚀掩模m的该多个开口刻蚀区域中刻蚀Nm个导电层;(c)削减该刻蚀掩模m,以增加该多个开口刻蚀区域的尺寸,该多个开口刻蚀区域迭加多个额外的接触开口;(d)于已增加尺寸的该多个开口刻蚀区域,刻蚀Nm个该多个导电层;以及(g)若N大于3,重复N‑3次削减步骤(c)及刻蚀步骤(d);藉此,以不同刻蚀掩模的组合暴露出该多个导电层上的该多个着陆区域。
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