[发明专利]一种DRC结果审查时自动截图的方法有效
| 申请号： | 201310045943.1 | 申请日： | 2013-02-05 |
| 公开（公告）号： | CN103970921B | 公开（公告）日： | 2017-09-01 |
| 发明（设计）人： | 魏靖恒 | 申请（专利权）人： | 中芯国际集成电路制造（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京市磐华律师事务所11336 | 代理人： | 董巍,高伟 |
| 地址： | 201203 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种DRC结果审查时自动截图的方法，涉及半导体技术领域。该方法包括步骤S101按照分类排序方法对DRC检查结果自动对相关层进行截图操作，其中，每一次截图都按照设计规则的名称调取预定数据库的内容，以使每条设计规则自动找到相关层从而保证截图时只打开版图的相关层；步骤S102按照预定的标注方法对所截图片自动进行尺寸标注；步骤S103利用经尺寸标注的所截图片和DRC检查结果，自动生成DRC结果报告。本发明的DRC结果审查时自动截图的方法，可以提高截图的效率，缩短DRC规则的审查周期，提高版图验证的效率和准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 drc 结果 审查 自动 截图 方法 | ||
【主权项】：
一种DRC结果审查时自动截图的方法，其特征在于，所述方法包括：步骤S101：按照分类排序方法对DRC检查结果自动进行截图操作，其中，每一次截图都按照设计规则的名称调取预定数据库的内容，以使每条所述设计规则自动找到相关层从而保证截图时只打开版图的相关层，所述预定数据库是之前已经建立的数据库；步骤S102：按照预定的标注方法对所截图片自动进行尺寸标注；步骤S103：利用经尺寸标注的所截图片和所述DRC检查结果，自动生成DRC结果报告，所述DRC结果报告包括规则名称、规则描述、违反值个数、违反值类型、违反值数值和经尺寸标注过的所截图片。
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