[发明专利]用于成像像素的黑色电平校正的方法和系统

摘要

本发明涉及一种用于成像像素的黑色电平校正的方法和系统。本发明揭示一种用于获得经校正的像素值的技术。所述技术包含测量像素阵列的暗校准像素的第一暗电流，和测量所述像素阵列的成像像素的第二暗电流。基于所述第一暗电流和所述第二暗电流来计算暗电流比率。用所述成像像素来获取图像电荷，其中所述图像电荷是在第一时间周期上积累的。用所述暗校准像素来获取电荷，其中所述电荷是在第二时间周期上积累的。所述第二时间周期大概等于所述第一时间周期除以所述暗电流比率。使用来自所述成像像素的第一读出和来自所述暗校准像素的第二读出来计算经校正的成像像素值。

主权项

一种用于获得经校正的像素值的方法，所述方法包括：测量像素阵列的暗校准像素的第一暗电流；测量所述像素阵列的成像像素的第二暗电流；基于所述第一暗电流和所述第二暗电流来计算暗电流比率；用所述成像像素获取在第一时间周期上积累的图像电荷；用所述暗校准像素获取在第二时间周期上积累的电荷，所述第二时间周期大概等于所述第一时间周期除以所述暗电流比率；以及使用来自所述成像像素的第一读出和来自所述暗校准像素的第二读出来计算经校正的成像像素值。