[发明专利]纱线缺陷检测装置及纱线卷绕机无效
| 申请号： | 201310051189.2 | 申请日： | 2013-02-16 |
| 公开（公告）号： | CN103359546A | 公开（公告）日： | 2013-10-23 |
| 发明（设计）人： | 川畑智史;仲井政人 | 申请（专利权）人： | 村田机械株式会社 |
| 主分类号： | B65H63/06 | 分类号： | B65H63/06 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 庞乃媛;黄剑锋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种纱线缺陷检测装置（5），具备输入透射信号（F）的透射光用放大部（57a）和输出反射信号（R）的反射光用放大部（57b），在用微机（60）调整透射光用放大部（57a）的放大率及反射光用放大部（57b）的放大率时，根据透射信号（F）调整透射光用放大部（57a）中的放大率，根据反射信号（R）调整反射光用放大部（57b）中的放大率。 | ||
| 搜索关键词： | 纱线 缺陷 检测 装置 卷绕 | ||
【主权项】：
一种纱线缺陷检测装置，具备：检测部，具有对纱线行走的纱道从第1方向投光的第1投光部、在上述第1方向上夹着上述纱道而与上述第1投光部相对置配置的第1受光部、以及配置在与上述第1受光部不同的位置上的第2受光部；第1放大部，放大由上述第1投光部投光、被上述第1受光部受光的第1光的检测信号来生成第1信号，并输出该第1信号；第2放大部，放大由上述第1投光部投光、被上述第2受光部受光的第2光的检测信号来生成第2信号，并输出该第2信号；以及，控制部，根据上述第1信号进行上述第1放大部中的放大率的调整即第1调整处理，从而确定上述第1放大部中的上述放大率，然后，以确定了上述第1放大部中的上述放大率时的控制值使上述第1投光部发光，根据上述第2信号进行上述第2放大部中的放大率的调整即第2调整处理。
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