[发明专利]修复存储器单元的设备和方法及包括该设备的存储器系统无效
| 申请号： | 201310064093.X | 申请日： | 2013-02-28 |
| 公开（公告）号： | CN103295648A | 公开（公告）日： | 2013-09-11 |
| 发明（设计）人： | 孙敎民;宋镐永;黄祥俊;金澈;孙东贤 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11C29/42 | 分类号： | G11C29/42;G11C29/44 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 李琳 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 提供用于修复存储器系统中的存储器单元的方法和装置。测试设备根据测试命令通过测试存储器设备而检测故障地址，并且在故障地址存储器（FAM）中临时存储故障地址。根据故障地址传送模式，故障地址被传送到存储器设备，并且被临时存储在存储器设备的临时故障地址存储器中，然后被存储在作为非易失性存储设备的反熔丝阵列中。为了确保数据的可靠性，存储的数据被读取以便验证数据并且验证结果经由数据管脚被串行或并行地传送到测试设备。 | ||
| 搜索关键词： | 修复 存储器 单元 设备 方法 包括 系统 | ||
【主权项】：
一种存储器系统，其包括：存储器设备，其包括具有至少N×M的矩阵阵列结构的非易失性存储设备，其中N和M每个表示等于或大于2的整数；以及测试设备，其被配置为测试所述存储器设备，其中，由所述测试设备检测的故障地址被传送到存储器设备并且被存储在所述非易失性存储设备中。
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