[发明专利]一种紫外多参数校准装置有效
| 申请号： | 201310065833.1 | 申请日： | 2013-03-04 |
| 公开（公告）号： | CN103175677A | 公开（公告）日： | 2013-06-26 |
| 发明（设计）人： | 孙红胜;王加朋;魏建强;张玉国;李世伟;张虎;孙广尉 | 申请（专利权）人： | 北京振兴计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01J3/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100074 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及紫外光参数校准技术领域，具体的讲是一种紫外多参数校准装置，旋转平台内置于所述真空仓内，单色仪与真空仓相连接，紫外探测器通过单色仪测量真空仓内的紫外光源的辐射，或者紫外光源通过单色仪向真空仓提供紫外光源的辐射；标准紫外光源，待校准光源，标准紫外探测器，待校准探测器，紫外成像器和紫外成像参数校准系统均置于所述旋转平台之上，所述旋转平台根据控制信号沿着所述旋转平台的圆心旋转，其中，所述紫外成像器和紫外成像参数校准系统处于同一光路。通过上述实施例，能够在一个共用校准装置上实现紫外光源光谱辐射度校准、紫外探测器光谱响应度和紫外成像器参数的校准，节省了试验成本，提高了试验效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 紫外 参数 校准 装置 | ||
【主权项】：
一种紫外多参数校准装置，其特征在于包括：真空仓，旋转平台，标准紫外光源，待校准光源，标准紫外探测器，待校准探测器，紫外成像器，紫外成像参数校准系统和单色仪，还包括紫外探测器或者紫外光源；所述旋转平台内置于所述真空仓内，所述单色仪与所述真空仓相连接，所述紫外探测器通过所述单色仪测量所述真空仓内的紫外光源的辐射，或者所述紫外光源通过所述单色仪向所述真空仓提供紫外光源的辐射；所述标准紫外光源，待校准光源，标准紫外探测器，待校准探测器，紫外成像器和紫外成像参数校准系统均置于所述旋转平台之上，所述旋转平台根据控制信号沿着所述旋转平台的圆心旋转，其中，所述紫外成像器和紫外成像参数校准系统处于同一光路。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京振兴计量测试研究所，未经北京振兴计量测试研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201310065833.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
