[发明专利]可隔离信号干扰的半导体电路测试装置有效

专利信息
申请号: 201310072498.8 申请日: 2013-03-07
公开(公告)号: CN104035020A 公开(公告)日: 2014-09-10
发明(设计)人: 郑柏凯;林士闻;杨苍奇 申请(专利权)人: 致茂电子(苏州)有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 代理人: 许志勇
地址: 215011 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明实施例提供一种半导体电路测试装置,所述半导体电路测试装置包括控制模块、底板、警报模块以及电源模块。控制模块具有第一收发单元及第一编解码单元,第一收发单元用以接收经由光传输的光信号,第一编解码单元将光信号转换成电信号。底板受控于电信号以选择性地启动至少一测试程序。警报模块具有微控制单元及第一隔离单元,微控制单元经第一隔离单元监测底板的至少一参数,选择性地产生警报信号。电源模块具有变压器,变压器将电源供应器提供的电能耦合至底板。藉此,本发明实施例提供的半导体电路测试装置可减少电磁噪音干扰。
搜索关键词: 隔离 信号 干扰 半导体 电路 测试 装置
【主权项】:
一种半导体电路测试装置,其特征在于,包括:一控制模块,具有一第一收发单元及一第一编解码单元,该第一收发单元耦接该第一编解码单元,该第一收发单元用以接收经由光传输的一光信号,该第一编解码单元将该光信号转换成一电信号;一底板,耦接该控制模块,受控于该电信号以选择性地启动至少一测试程序;一警报模块,具有一微控制单元及一第一隔离单元,该第一隔离单元耦接该底板与该微控制单元,该微控制单元经该第一隔离单元监测该底板的至少一参数,以选择性地产生一警报信号;以及一电源模块,耦接于该底板以及一电源供应器之间,该电源模块具有一变压器,该变压器将该电源供应器提供的电能耦合至该底板。
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