[发明专利]一种基于椭偏仪的纳米材料熔点的测量方法无效
| 申请号： | 201310077694.4 | 申请日： | 2013-03-12 |
| 公开（公告）号： | CN103175785A | 公开（公告）日： | 2013-06-26 |
| 发明（设计）人： | 张冬旭;郑玉祥;陈良尧;吴康宁;张荣君;王松有;李晶;杨月梅 | 申请（专利权）人： | 复旦大学 |
| 主分类号： | G01N21/21 | 分类号： | G01N21/21 |
| 代理公司： | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人： | 陆飞;盛志范 |
| 地址： | 200433 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明属于热学测量技术领域，具体为一种基于椭偏仪的纳米材料熔点的测量方法。本发明利用椭偏仪测量不同温度下纳米材料的光学性质，根据纳米材料从固态转变到液态时其光学性质也会随之改变的原理，从而测得纳米材料的熔点。本发明可快速、非破坏、非接触测量纳米材料的熔点。在物理、化学、生物医学、环境科学等众多领域，具有广泛的应用前景。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 椭偏仪 纳米 材料 熔点 测量方法 | ||
【主权项】：
一种基于椭偏仪的纳米材料熔点的测量方法，其特征在于具体步骤为：（1）首先，利用反射式椭偏仪测量不同温度下纳米材料的p光、s光的反射率的比值tanΨ和相位延迟Δ；（2）然后通过测量得到椭偏参数Ψ、Δ，计算出材料的介电常数ε1、ε2以及折射率n、消光系数k；（3）计算光学常数随温度的变化率；（4）比较光学常数随温度的变化谱，以及变化率随温度的变化谱，通过观察其突变来确定被测纳米材料的熔点。
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