[发明专利]一种制备掺铈的焦硅酸镥闪烁薄膜的方法有效
申请号: | 201310081938.6 | 申请日: | 2013-03-14 |
公开(公告)号: | CN104046984A | 公开(公告)日: | 2014-09-17 |
发明(设计)人: | 刘光辉;杨华;刘茜;魏钦华;周真真;卢琦 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海硅酸盐研究所 |
主分类号: | C23C26/00 | 分类号: | C23C26/00;G21K4/00 |
代理公司: | 上海海颂知识产权代理事务所(普通合伙) 31258 | 代理人: | 何葆芳 |
地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种制备掺铈的焦硅酸镥闪烁薄膜的方法,其包括如下步骤:a)对单晶硅片进行表面清洁和去氧化层预处理;b)采用化学刻蚀方法在经步骤a)预处理后的单晶硅片表面刻蚀出多孔;c)将步骤b)获得的表面刻蚀有多孔的单晶硅片置入CexLu1-x(NO3)3乙酸溶液中,在25~60℃下浸渍8~12小时后,干燥备用;其中,CexLu1-x(NO3)3中的x=0.001~0.040;d)将步骤c)得到的单晶硅片在惰性气氛中、于1000~1200℃下进行热处理2~4小时。本发明可实现以简单操作、低成本、大面积制备厚度可达30~60微米、且薄膜与衬底结合牢固的掺铈的焦硅酸镥闪烁薄膜,具有应用前景。 | ||
搜索关键词: | 一种 制备 硅酸 闪烁 薄膜 方法 | ||
【主权项】:
一种制备掺铈的焦硅酸镥闪烁薄膜的方法,其特征在于,包括如下步骤:a)对单晶硅片进行表面清洁和去氧化层预处理;b)采用化学刻蚀方法在经步骤a)预处理后的单晶硅片表面刻蚀出多孔;c)将步骤b)获得的表面刻蚀有多孔的单晶硅片置入CexLu1‑x(NO3)3乙酸溶液中,在25~60℃下浸渍8~12小时后,干燥备用;其中,CexLu1‑x(NO3)3中的x=0.001~0.040;d)将步骤c)得到的单晶硅片在惰性气氛中、于1000~1200℃下进行热处理2~4小时。
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