[发明专利]钼化合物/钼合金粉末掺杂元素分布微观均匀性检测方法无效
| 申请号： | 201310102245.0 | 申请日： | 2013-03-27 |
| 公开（公告）号： | CN103196933A | 公开（公告）日： | 2013-07-10 |
| 发明（设计）人： | 冯鹏发;杨秦莉;赵虎;刘仁智;付静波 | 申请（专利权）人： | 金堆城钼业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/22 | 分类号： | G01N23/22;G01N1/28;G01N1/38 |
| 代理公司： | 西安弘理专利事务所 61214 | 代理人： | 罗笛 |
| 地址： | 710077 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种钼化合物/钼合金粉末掺杂元素分布微观均匀性的检测方法，将待检测的钼化合物或钼合金粉末进行压片后烘干，再经过冷却后真空包装，最后在扫描电镜上进行能量弥散X射线光谱图检测并分析掺杂元素分布的微观均匀性。本发明钼化合物/钼合金粉末掺杂元素分布微观均匀性的检测方法，通过将待检测的钼化合物/钼合金粉末进行压片、烘干和真空包装后，采用扫描电镜对其进行能量弥散X射线分布光谱图检测进而分析掺杂元素分布的微观均匀性，能够快速、及时、准确地分析钼化合物粉末/钼合金粉末中掺杂元素分布的微观均匀性。 | ||
| 搜索关键词： | 化合物 合金 粉末 掺杂 元素 分布 微观 均匀 检测 方法 | ||
【主权项】：
钼化合物/钼合金粉末掺杂元素分布微观均匀性的检测方法，其特征在于，将待检测的钼化合物粉末和钼合金粉末进行压片后烘干，再经过冷却后真空包装，最后在扫描电镜上进行能量弥散X射线光谱图检测并分析掺杂元素分布的微观均匀性。
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