[发明专利]一种集成电路的测试装置及方法有效
| 申请号： | 201310146344.9 | 申请日： | 2013-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN103267943A | 公开（公告）日： | 2013-08-28 |
| 发明（设计）人： | 索鑫 | 申请（专利权）人： | 上海宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3181 | 分类号： | G01R31/3181 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 吴靖靓;骆苏华 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种集成电路的检测装置及方法。所述检测装置包括：输入单元，包括与所述输入通道连接的串行输入端及与待测芯片输入端对应的至少一个并行输出端；至少一个第一控制开关，用于在使能时使对应并行输出端与所述待测芯片输入端之间导通、在禁能时使对应并行输出端与所述待测芯片输入端之间关断；控制单元，用于为所述至少一个第一控制开关并行提供控制信号，所述第一控制开关设置为当所接收的控制信号为第一电平时使能、当所接收的控制信号为第二电平时禁能；输出单元，包括与待测芯片输出端对应的至少一个并行输入端及与所述输出通道连接的串行输出端。本发明技术方案能够完善芯片的并行测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种集成电路的测试装置，包括输入通道和输出通道，其特征在于，包括：输入单元，包括与所述输入通道连接的串行输入端及与待测芯片输入端对应的至少一个并行输出端；至少一个第一控制开关，用于在使能时使对应并行输出端与所述待测芯片输入端之间导通、在禁能时使对应并行输出端与所述待测芯片输入端之间关断；控制单元，用于为所述至少一个第一控制开关并行提供控制信号，所述第一控制开关设置为当所接收的控制信号为第一电平时使能、当所接收的控制信号为第二电平时禁能；输出单元，包括与待测芯片输出端对应的至少一个并行输入端及与所述输出通道连接的串行输出端。
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