[发明专利]一种对高压绝缘子等值盐密测量的方法有效
| 申请号： | 201310148893.X | 申请日： | 2013-04-25 |
| 公开（公告）号： | CN103278540A | 公开（公告）日： | 2013-09-04 |
| 发明（设计）人： | 王黎明;项阳;郭晨鋆;赵宇明;梅红伟;李岩;戴罕奇 | 申请（专利权）人： | 南方电网科学研究院有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N27/04 | 分类号： | G01N27/04 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 马晓亚 |
| 地址： | 510080 广东省广州市越*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种对高压绝缘子等值盐密测量的方法，包括：将待测的高压绝缘子表面均匀分区，在每个区域任意选取一处作为测量点；消除测量点处的憎水性；在消除憎水性后的测量点处喷一层水膜；测量测量点处的局部表面电导率；根据多个所述测量点处的局部表面电导率，得到平均局部表面电导率；根据所述平均局部表面电导率得到绝缘子的等值盐密值。本发明提供的方法，实现了在不破坏绝缘子污层结构的条件下，对具有强憎水性表面的绝缘子等值盐密进行测量，使得研究人员能够对相同的测试点进行长期的等值盐密测量，便于总结污秽积累的规律；并且该测量方法避免了其他方法在运输过程中带来的误差，提高了测量的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高压 绝缘子 等值 测量 方法 | ||
【主权项】：
一种对高压绝缘子等值盐密测量的方法，其特征在于，包括：将待测的高压绝缘子表面均匀地划分为多个区域，在每个区域中，分别任意选取一处作为测量点；消除所述测量点处的憎水性；在所述消除憎水性后的测量点处喷一层水膜；测量所述测量点处的局部表面电导率；根据多个所述测量点处的局部表面电导率，得到平均局部表面电导率；根据所述平均局部表面电导率得到绝缘子的等值盐密值。
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