[发明专利]等离子显示屏制造过程数据挖掘系统有效
申请号: | 201310161147.4 | 申请日: | 2013-05-04 |
公开(公告)号: | CN103268329A | 公开(公告)日: | 2013-08-28 |
发明(设计)人: | 李涛;郑理;王鹏年;贾建军;虞尚友;雷鸣;段冰;顾尚林;王军;张春 | 申请(专利权)人: | 四川虹欧显示器件有限公司 |
主分类号: | G06F17/30 | 分类号: | G06F17/30 |
代理公司: | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人: | 邓世燕 |
地址: | 621000 四川省绵阳市*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种等离子显示屏制造过程数据挖掘系统,包括数据探索模块、数据挖掘模块、分布特性量化模块、结果显示存储模块和系统调度管理模块。本发明的积极效果是:本系统不但能有效挖掘出等离子显示屏制造过程制造工序BR,PH设备环境参数与良率的关系;还能挖掘出等离子显示屏制造过程制造全工序数据中与主要工序不良类型相关的重要参数;以及挖掘出等离子显示屏制造过程制造BR工序中不良代码与点灯不良类型的关系。 | ||
搜索关键词: | 等离子 显示屏 制造 过程 数据 挖掘 系统 | ||
【主权项】:
一种等离子显示屏制造过程数据挖掘系统,其特征在于:包括数据探索模块、数据挖掘模块、分布特性量化模块、结果显示存储模块和系统调度管理模块,其中:数据探索模块:对大数据进行预处理,建立和导出数据立方;数据挖掘模块:采用特征抽取方法、关联分析方法和回归分析方法,对数据探索模块导出的数据立方进行数据挖掘;分布特性量化模块:根据用户输入的数据集和统计指标,按工序以及时间计算最大值、最小值、均值、方差、偏度、峰度,制作数据分布图;并将计算结果按统计指标进行排序,并将排序结果进行显示和保存;结果显示存储模块:对各模块处理的结果进行显示和存储;系统调度管理模块:根据用户输入的指示,调用各模块,实现对各模块的调度管理。
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