[发明专利]用于测试电阻型存储器的结构、系统和方法

摘要

示例实施例包括一种用于大批量并行应力测试电阻型存储器的方法。所述方法可以包括例如禁用一个或多个内部模拟电压生成器；配置存储器电路使用公共平面电压（VCP）焊盘或外部管脚；将存储器设备的位线连接到恒流驱动器，该恒流驱动器与VCP焊盘或外部管脚协力地工作用以执行大批量并行读或写操作。本发明构思包括存储器阵列的快速测试设置和初始化。数据可被进行保持力测试或者另外使用类似的大批量并行测试技术来检验。实施例也包括存储器测试系统，该存储器测试系统包括具有DFT电路的存储器设备，该DFT电路被配置成执行大批量并行应力测试、保持力测试、功能性测试以及测试设置和初始化。

主权项

一种用于大批量并行测试电阻型存储器的方法，所述方法包括：将多个电阻型存储器单元的位线耦接到电流驱动器，并且将存储器单元的源极线耦接到公共平面电压VCP焊盘或外部管脚；当电流驱动器将位线拉到地电压电平时，保持VCP焊盘或外部管脚为测试写电压电平达一与测试写脉冲宽度关联的时间段；并行驱动第一写测试电流以第一方向流经存储器单元，以便将第一数据写入存储器单元；当电流驱动器将位线拉到测试写电压电平时，保持VCP焊盘或外部管脚为地电压电平达测试写脉冲宽度或时间；和并行驱动第二写测试电流以第二方向流经存储器单元，以便将第二数据写入存储器单元，所述第二方向与第一方向相反，所述第二数据与第一数据相反。