[发明专利]测试模块无效
| 申请号： | 201310189671.2 | 申请日： | 2013-05-21 |
| 公开（公告）号： | CN104181336A | 公开（公告）日： | 2014-12-03 |
| 发明（设计）人： | 陈石矶 | 申请（专利权）人： | 标准科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/02 | 分类号： | G01R1/02 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 汤保平 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明揭露一种测试模块，包括一测试盘及一测试基板，运用测试盘上的导体，使芯片测试机的测试基板能一次对齐所有芯片，在同一时间做检测，其减少工艺大量的工时，并增加测试者的收益，亦会对后续产品的进度产生正向效益。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 模块 | ||
【主权项】：
一种测试模块，包括一测试盘及一测试基板，其特征在于：该测试盘具有一上表面及相对于该上表面的一下表面；多个放置槽，形成于该测试盘的上表面；多个导体，贯穿该放置槽内，并于该放置槽的上表面上形成一上垫接点，于该放置槽的下表面上形成一下垫接点；该测试基板，具有一上表面及相对于该上表面的一下表面，配置于该测试盘下方；及多个检测区，形成于该测试基板的上表面，每该检测区具有多个检测点，每该检测接点相对于每个下垫接点。
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