[发明专利]一种检测高纯氧化铝熔块中杂质元素的方法无效
| 申请号： | 201310193120.3 | 申请日： | 2013-05-23 |
| 公开（公告）号： | CN103308508A | 公开（公告）日： | 2013-09-18 |
| 发明（设计）人： | 李显坪;王继荣;王晶;陈琦 | 申请（专利权）人： | 扬州高能新材料有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/73 | 分类号： | G01N21/73 |
| 代理公司： | 扬州市锦江专利事务所 32106 | 代理人： | 江平 |
| 地址： | 225123 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 一种检测高纯氧化铝熔块中杂质元素的方法，涉及物质分析技术领域，将高纯氧化铝熔块研磨成粉后经磷酸、硫酸混酸溶液微波消解，将反应的混合体系加纯水定容至总体积为V，上ICP-MS机检测出所述高纯氧化铝熔块中各杂质元素质量；再通过公式计算出高纯氧化铝熔块中各杂质元素的含量。该法制样的检测数据多次与GD-MS检测数据比较，具有精密度好，准确度高，实用可行。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检测 高纯 氧化铝 熔块中 杂质 元素 方法 | ||
【主权项】：
一种检测高纯氧化铝熔块中杂质元素的方法，其特征在于将研磨后的高纯氧化铝熔块m高纯氧化铝熔块粉置于四氟乙烯消解罐内，加入体积比为5:1的磷酸和硫酸的混合溶液，在230～240℃条件下保温反应至结束；降温后，将反应的混合体系加纯水定容至总体积为V，上ICP‑MS机检测出所述高纯氧化铝熔块中各杂质元素的C测；再通过以下公式计算出所述高纯氧化铝熔块中各杂质元素的含量：各杂质元素的含量C＝V×C测/ m高纯氧化铝熔块粉。
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