[发明专利]一种应用于集成电路的芯片测试中的测试电路在审
| 申请号： | 201310221327.7 | 申请日： | 2013-06-04 |
| 公开（公告）号： | CN103336240A | 公开（公告）日： | 2013-10-02 |
| 发明（设计）人： | 童炜 | 申请（专利权）人： | 上海华力微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人： | 竺路玲 |
| 地址： | 201210 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种应用于集成电路的芯片测试中的测试电路，通过在DPS测试通道之后，待测芯片管脚之前增加一DPS扩展电路模块，DPS扩展电路模块包括光电耦合单元、译码单元、驱动单元和继电器线圈单元，单元内部连接结构简单，成本低廉，在克服了现有技术中低端集成电路测试设备无法对需要多个DPS测试通道的芯片进行测量的问题，解决现有技术中只能采用耗费百万美金的高档集成电路测试设备对需要多个DPS测试通道的待测芯片进行测量的问题的同时，还提高了低端集成电路测试电路的使用率，进而降低了产品的制造成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 应用于 集成电路 芯片 测试 中的 电路 | ||
【主权项】：
一种测试电路，应用于集成电路的芯片测试中，所述测试电路包括集成电路测试设备，所述集成电路测试设备上设置有DPS测试端和电源输出端，且所述电源输出端与所述芯片的电源输入端连接，其特征在于，所述测试电路还包括控制模块和DPS扩展电路模块；所述控制模块包括至少一控制模块输出端，所述DPS扩展电路模块包括DPS扩展电路测试输入端、至少一DPS扩展电路控制输入端和至少两个DPS扩展电路测试输出端；所述控制模块输出端与所述DPS扩展电路控制输入端连接，所述DPS扩展电路测试输入端与所述DPS测试端连接，每个所述DPS扩展电路测试输出端分别与所述芯片的一个待测管脚连接。
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