[发明专利]半导体元件测试装置及其测试方法有效
| 申请号： | 201310228519.0 | 申请日： | 2013-06-08 |
| 公开（公告）号： | CN104237760B | 公开（公告）日： | 2017-05-10 |
| 发明（设计）人： | 苏哲毅;蔡佳宏;蔡秉谚;宋柏宽 | 申请（专利权）人： | 京元电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司11019 | 代理人： | 寿宁 |
| 地址： | 中国台湾新*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明是有关于一种半导体元件测试装置及其测试方法。此装置可包含半导体元件测试接口、测试载板、移动产业处理器接口模块以及缓冲模块。半导体元件测试接口可撷取待测半导体元件的移动产业处理器接口信号。而测试载板则可接收移动产业处理器接口信号，并可由设置于测试载板的移动产业处理器接口模块对移动产业处理器接口信号进行解码产生经解码的影像数据。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 元件 测试 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种半导体元件测试装置，其特征在于，其连结于一半导体元件测试接口，该半导体元件测试接口是撷取至少一待测半导体元件的移动产业处理器接口信号，该半导体元件测试装置包含：一测试载板，接收该些移动产业处理器接口信号；至少一移动产业处理器接口模块，设置于该测试载板，并对该些移动产业处理器接口信号进行解码以产生经解码的影像数据；一缓冲模块，设置于该测试载板，并对该些影像数据进行一存取及运算程序，该缓冲模块是连接至一影像处理电脑.该影像处理电脑是利用内建的影像处理函数库来分析判读该些影像数据以产生一分析结果，并将该分析结果传送至一主电脑以显示该分析结果；以及其中该些移动产业处理器接口模块解码多个该待测半导体元件的该些移动产业处理器接口信号，且通过该缓冲模块连接至多个该影像处理电脑。
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