[发明专利]基板处理装置和基板处理方法有效
申请号: | 201310230866.7 | 申请日: | 2013-06-09 |
公开(公告)号: | CN103515220B | 公开(公告)日: | 2017-04-12 |
发明(设计)人: | 河野央;伊藤规宏;八谷洋介;野上淳;大石幸太郎;菅野至 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | H01L21/306 | 分类号: | H01L21/306 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)11277 | 代理人: | 刘新宇,张会华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供基板处理装置和基板处理方法。在不对基板的基底层造成损伤的情况下良好地将去除对象层去除。在本发明中,基板处理装置(1)用于向在基底层的表面上形成有去除对象层的基板(3)供给硫酸与过氧化氢水的混合液而将去除对象层去除,包括基板处理室(16),用于处理基板;基板保持部件(12),设于基板处理室内,用于保持基板;混合液供给部件(13),用于以不会对基底层造成损伤的温度和过氧化氢水的混合比向由基板保持部件保持着的基板供给硫酸与过氧化氢水的混合液;OH基供给部件(14),用于向基板供给含有OH基的流体,OH基供给部件供给含有在混合液与OH基在基板上混合时不会对基底层造成损伤的量的OH基的流体。 | ||
搜索关键词: | 处理 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种基板处理装置,其用于向在基底层的表面上形成有去除对象层的基板供给硫酸与过氧化氢水的混合液来将去除对象层去除,上述基底层为氧化膜或者氮化膜,其特征在于,该基板处理装置包括:基板处理室,其用于处理上述基板;基板保持部件,其设于上述基板处理室内,用于保持上述基板;混合液供给部件,其用于以不会对上述基底层造成损伤的温度和过氧化氢水的混合比向由上述基板保持部件保持着的基板供给硫酸与过氧化氢水的混合液;以及OH基供给部件,其用于向上述基板供给含有OH基的流体,上述OH基供给部件供给含有在上述混合液与OH基在上述基板上混合时不会对上述基底层造成损伤的量的OH基的流体,其中,不会对上述基底层造成损伤的混合液温度是100℃~180℃,不会对上述基底层造成损伤的混合液混合比是硫酸:过氧化氢水=10:1~25:1。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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