[发明专利]计算待测元件的轮廓数据的方法

摘要

一种计算待测元件的轮廓数据的方法，通过一测量装置对一待测元件的实体进行测量与计算。本发明的方法包括：测量装置取得待测元件上的一第一元件与一第二元件的质心；规划一条质心线，其中质心线通过二质心；规划一条垂直于质心线，并且通过第一元件的质心的第一基准线；规划一条垂直于质心线，并且通过第二元件的质心的第二基准线；规划至少一条垂直线，其中垂直线是垂直于基准线，并且与第一元件的轮廓周缘产生至少二交点；经计算得出所述至少二交点的坐标位置；以及记录所述至少二交点的坐标位置。本发明可以通过测量装置测量交点的坐标位置，与计算交点之间的长度，得出待测元件的轮廓数据，藉此利于组装。

主权项

一种计算待测元件的轮廓数据的方法，通过一测量装置所运算，其特征在于，该待测元件由一第一元件及一第二元件所组成，该方法包括：a)该测量装置分别测量取得该第一元件的质心以及该第二元件的质心；b)该测量装置规划一质心线，其连接该第一元件的质心与该第二元件的质心；c)该测量装置规划一第一基准线，其中该第一基准线垂直于该质心线，并且该第一基准线通过该第一元件的质心；d)该测量装置规划至少一垂直线，其中该垂直线垂直于该第一基准线，并且该垂直线不与垂直于该第一基准线的任何一条线相重叠，其中该垂直线与该第一元件的轮廓周缘产生至少二交点，该测量装置经计算得出该至少二交点的坐标数据；e)记录该至少二交点的坐标数据；及f)该测量装置依据所记录的所有点位的坐标数据，定义该待测元件的轮廓。